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CJ系列高低温冲击箱通过高低温的交替变化，检测样品的电性能和机械耐久性的变化情况从而筛选出结构上的缺陷，诸如包装密封不佳、引线焊接不良、塑料裂缝等。
高低温冲击箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量，从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。
高低温冲击箱分为高温箱，低温箱，测试箱三部分，采独特的断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测样品完全处于静止状态，应用冷热风路切换方式将冷，热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
参照标准：
GB10586-2006湿热试验箱技术条件
GB10589-2006低温试验箱技术条件
GB10592-2008高低温试验箱技术条件
GB11158-2006高温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2008试验A：低温试验方法
GB/T2423.2-2008试验B：高温试验方法
GB/T2423.3-2006试验Ca:恒定湿热试验
GB/T2423.4-2008试验Db：交变湿热试验方法
GB/T5170.5-2008电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备
GB/T5170.2-2008电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备
使用条件：
环境温度：5℃～＋28℃（24小时内平均温度≤28℃）
环境湿度：≤85%
电源要求：380V（±10%）V/50HZ三相五线制