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随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。
国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。
LH-100高温老化箱是一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。
工作原理及作用：该系列产品适用于电气绝缘材料的耐热性试验，电子零配件、塑化产品之换气老化试验。考核和判断其在高温环境条件下贮存和使用的适应性，试样在模拟高温和大气压力下的空气中老化后测定其性能并与未老化样的性能予以比较。
高温老化箱性能指标：
1.温度范围：室温～200℃/300℃
2.波动/均匀度：≤±0.5℃/≤2℃
3.时间设定范围：0～9999（h、m、s）可调
4.循环方式：强制风循环方式
温度运行控制系统：
1.控制仪：采用日本富士液晶屏触摸键温度控制仪，温度直接显示，操作简单；精度：0.1℃(显示范围)（选配:进口触摸屏温度控制仪）。
2.输出方式：脉冲式固态继电器（PID+SSR）输出。
3.传感器：铂金电阻PT100Ω/MV或K型。
4.加热系统：耐高温釉质磁架镍铬合金电加热式加热器。
5.电器控制：知名品牌电器执行元器件。
保护系统：
漏电、短路、超温、电机过热、电源欠相、逆相保护等。